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產(chǎn)品型號: NANOTRAC FLEX
所屬分類:納米粒度分析儀
產(chǎn)品時間:2023-10-28
簡要描述:NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動態(tài)光散射技術(DLS),引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念,快速準確地得到被測體系的納米粒度分布,外置固定式光學探頭滿足任何應用需求。
eParticle Analyzer)研發(fā)成功,引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念,快速準確地得到被測體系的納米粒度分樣品,面積及光強分
外部環(huán)境:
電源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz
環(huán)境要求:溫度,10-35°C
國際標準:符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008
主要特點:
• 采用先進的動態(tài)光散射技術,引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法
• 異相多譜勒頻移技術,較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,提高分析結果的可靠性。
• 可控參比方法(CRM),能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度。
• 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計,減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
• 快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時間。
• 膜電極設計,避免產(chǎn)生熱效應,能準確測量顆粒電泳速度。
• 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。